2013年度 第4回研究会内容（参加者：　研究会 １４７名　　懇親会 １１７名）

　１．研究会：　2013年2月4日（月）13時30分〜
　　　　　　　　　機械振興会館地下2階ホール
　２．懇親会：　17:00〜19:00
　　　　　　　　　機械振興会館　地下3階
　　　　　　　　　ニュートーキョーホール　





３．プログラム
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　開会の挨拶　(13:30〜13:40)
　　　　　　光学薄膜研究会代表　室谷　裕志

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3.1 分光光度計を用いた多種サンプルの測定例 (13:40〜14:20)
　　　　　　玉島 孝弘、栗田 浩二（株式会社日立ハイテクノロジーズ）
　日立分光光度計U-4100 を用いた様々なサンプルの測定例と測定におけるコツをご紹介致します。

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3.2 プロジェクタ−用光学部品 (14:20〜15:00)
　　　　矢野 邦彦 （セイコーエプソン株式会社 技術開発本部 コア技術開発センター）
　液晶プロジェクターの光学系の構成と使われる光学部品、ランプ、フィルター、ＰＢＳ、レンズ、プリズム、液晶ライトバルブ、偏光板等の技術を光学薄膜中心に説明します。

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　　　　　　　　（休憩　15:00〜15:15）
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3.3 膜厚モニタークリスタル (15:15〜15:55)
　　　　　　早川 春男（ピエゾパーツ株式会社 代表取締役会長）

　モニタークリスタルの取り扱いについて、基礎的観点から使用上の注意点をご紹介いたします。　

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3.4 重力波観測のための超高品質量子限界光学薄膜の開発(15:55〜16:35)
　　　　　　　植田 憲一 (電気通信大学 名誉教授)
　我が国の重力波検出用超精密レーザー干渉計の開発を可能にした量子限界超高 性能光学ミラー、IBS コーティング、PPM 損失光学薄膜、超高安定化レーザーによる光学パラメータの精密計測などについて、純科学研究を利用した米国からの技術導入を含めて紹介します。

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　事務局から (16:35〜17:00)
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　　　　　　　　　　　　　　　　　　懇親会　　　　　　　　　　　　　　　懇親会終了後の東京タワー